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LG-A1 SOE测试仪
1. 主要用途:
 该SOE测试仪是专为DCS系统的SOE子系统校验而设计的。具有128个模拟 触发通道,具有特殊设计的模拟无极性干接点输出,能够可靠触发各种输入结构的SOE通道。触发时间基准为高精度石英晶体震荡源,触发间隔时间可在0.1mS~5 .0mS之间以0.1mS为单位任意设置,精确度达3uS以上。
 
2. 特点:
l 彩色屏幕显示,所有操作在画面上均有提示
l 全部汉字显示,汉字操作提示
l SOE模件测量方式直观,测量的模件可选择, 通道间相互隔离,测量精度高, 设定时间范围大(从0.1 mS到5mS)采用手动和自动复位两种方式,便于观察仪器输出状态和检察试验回路连接是否正确以及模件输入通道有无故障。
 
3. 技术参数:
输出通道数: 128
接点特性:  无极性光电隔离(100V50mA)
触发方式:  顺序触发、群触发、脉冲触发
触发间隔:  0.1~5.0mS以0.1mS单位可调
触发精度:  <=3uS
工作电源:   220VAC/30VA
环境温度: –25-85℃
环境湿度: 10-95%
显    示: 彩色液晶屏实时显示
供    电: 外接220V
外形体积: 350×260×160 mm  便携手提箱

重 量:2.5Kg


4.(型号:LG-A1)《SOE测试仪》实物照片






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